存储芯片测试分选机 V9000
V9000
Automatic Test Handler
测试分选机
V9000是昂科推出的高性能大容量存储芯片测试分选机，本设备主要用于对UFS、SSD、eMMC、eMCP、LPDDR，UFS、UMCP等产品常温、高温环境下的SLT自动测试分选。
● IC自动上料，Tray自动分配，IC自动分BIN
● 集不同IC、Tray、BIB板的测试解决方案于一体
● CCD视觉检测，确保芯片的高精度取放作业
● 设备配备机械手臂，可同时满足open top和旋钮式老化板
● 效率: UPH>=1800 768个座子(25min长测时、UPH:1800)
● 精准视觉(+0.02mm)
● 吸嘴具有旋转纠偏功能
特色功能 超大容量老化测试系统 ● 是市面常见设备的3倍以上的容量 ● 预留天车、AGV接口 独立温控、压力控制系统 ● 每颗芯片独立的温控检测系统 ● 温控、压力控制更精准 CCD相机智能定位和调整 ● 四组工业相机，精准搬送 ● Auto Teach自动调整 ESD保护系统 ● 顶尖公司认可的ESD处理系统 ● 全内置进出料系统 高精度丝杆和导轨 ● 精度高，稳定性好 ● 易于维护 三重防叠料检测系统 ● CCD视觉检测 ● 吸嘴实时叠料检测(专利技术) ● UID比较 独有搬送托盘技术 ● 日本技术、20年时间考验，超高稳定性搬送万无一失 Auto teach 分料台推料视觉 引导系统 系统产品规格表 设备性能 重复取放精度 ±0.02mm 取放装置 真空吸嘴×4，真空-80Kpa，流量≥44L/min 单位产能 可高达2500UPH 控制系统 驱动方式 高性能伺服驱动系统 传动架构 高性能伺服电机+同步带+滑轨传动系统 解析度 X/Y/Z轴: 0.001mm, R轴: 0.036°/脉冲 下照式CCD数量 1组全局曝光500W分辨率高速相机 上照式CCD数量 4组全局曝光160W分辨率高速相机 Auto teach引导精度 + -0.02mm 目标自动捕捉 Socket测试座特征中心自动捕捉 3D视觉系统 CCD数量 全自动盘装进出料系统，约放20个JEDEC标准盘，异盘进出。 光学成像模块 电子科枪进料.支持8-44mm卷带宽度可选配扩展到72mm 高清双侧远行镜头 高清成像，最大支持1英寸CCD靶面 尺寸管控 共面性检测、引脚起翘检测、锡球检测 CCD数量 1组全局曝光160W分辨率高速相机 自动引导 分料台自动引导，快速捕捉推料测试库位置 AOI检测系统 芯片字符完整性检测 测试系统 测试库数量 32个，可根据需求进行扩展 测试载具 32个Socket+32个温控板+4个温控测试底板+1个测试主板 测试温度 支持高温、常温测试，高温范围65°C~150°C，精度+3°C 温度控制 可进行分区控温，配置高效降温系统 进/出系统 Tray盘上下料模块 1个Load区+1个Empty区+4个BIN区 驱动方式 高性能伺服驱动系统+丝杆直线电机 Tray盘上下料 抽屉式装料，单屉容纳Tray盘数量≥20pcs Tray盘升降系统 根据高度智能进行高度调整，确保Tray盘处于工作位 Tray盘补盘系统 自动进行供料盘回收，自动进行BIN区补盘 分料台系统 驱动方式 高性能伺服驱动系统 传动架构 高性能伺服电机+齿轮齿条+滚珠丝杠+滑轨传动系统 推料系统 可精准快速完成载具进出功能 偏移寻找系统 通过数组定义自动偏移寻测试库有无料位置 电气控制系统 PLC:松下FPOH-C321T+逻辑语言: ST 主机载具输送 驱动方式 闭环步进驱动系统 传动架构 闭环步进电机+高扭矩同步带+滑轨传动系统 开闭盖模块 根据载具输送位置快速完成Socket盖子开闭功能 开闭盖电气逻辑 通过两轴插补功能可自适应完成下压位置调整 电气控制系统 PLC:松下FPOH-C321T+逻辑语言: ST+EtherNET/IP网络协议 操作系统 操作系统 Windows 11 显示器 21寸触摸屏显示器 输入装置 键盘、鼠标、操作手柄 操作环境 输入电压 200V~240V单相/50~60HZ/2KW(额定功率) 空气压力 0.6MPa，约40L/min 重量 约900KG 尺寸 3500(L)*3500(W)*1920mm(H)
产品分类
新闻中心
客户留言
0755-26638750
