牛津 X-Strata920(X 荧光镀层测厚仪)
X 射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测 量及材料分析设备。X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属 合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。 X-Strata920 为这些行业提供了：
• 以更有效的过程控制来提高生产力
• 有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
• 快速无损地分析珠宝及其他合金
• 快速分析多达 4 层镀层
• 操作简单，只需要简单的培训
• 快速、精确的分析： 大面积正比计数探测器和牛津仪器 50 瓦微聚焦 X 射 线光管（X 射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏 度
• 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
• 性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置 800 多种容易选择的 应用参数/方法
• 卓越的长期稳定性：
• 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
• 例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性） 并进行必要的修正
• 坚固耐用的设计
• 可在实验室或生产线上操作
• 坚固的工业设计
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